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[技術(shù)支持]高性能振蕩器的選取有如此多條件2020年06月22日 16:59: 選取貼片石英晶振對(duì)于電子OG來(lái)說(shuō)不是難事,按照自家產(chǎn)品去找尋相關(guān)代理商,在參數(shù),價(jià)格合適的情況下完成交易.而高性能振蕩器也是大同小異原則,參數(shù)各方面對(duì)比是必然,特別是以上提到的晶振老化,頻率穩(wěn)定度,工作溫度這些,就在性能要求上嚴(yán)格了些,測(cè)試的手法還是老辦法,只要自己合適就好,剛開(kāi)始測(cè)試下來(lái)會(huì)顯得繁瑣,但時(shí)間一長(zhǎng)就會(huì)習(xí)慣,也是大家所說(shuō)的熟能生巧吧.; 閱讀（68）標(biāo)簽：

[技術(shù)支持]晶體切割方向影響晶振的老化特性2019年07月27日 11:38: 諧振片可以用許多不同的方法從源晶體上切割下來(lái).切割方向影響晶振的老化特性,頻率穩(wěn)定性,熱特性和其他參數(shù).這些切割在體聲波下進(jìn)行(BAW);對(duì)于較高頻率,采用表面聲波器件.剪切頻率范圍模式角度描述0.5-300兆赫厚度剪切(c模式,慢準(zhǔn)-切)35±15’,0(<25兆赫)35±18’,0(>10兆赫); 閱讀（266）標(biāo)簽：諧振器配置|晶振AT切割|晶振老化特性

[技術(shù)支持]晶振的串聯(lián)諧振頻率逐漸變化2019年07月03日 10:39: 晶振的串聯(lián)諧振頻率逐漸變化.幾年內(nèi)百萬(wàn)分之幾的變化很常見(jiàn).大多數(shù)變化發(fā)生在第一年或第二年.在較高溫度和振蕩幅度下,老化發(fā)生得更快.老化的主要原因是晶體質(zhì)量的增加.增加的質(zhì)量通常來(lái)自水晶盒內(nèi)的污染物,這些污染物落在并粘附在水晶SMD晶體表面上.; 閱讀（196）標(biāo)簽：晶振頻率變化|晶振老化|康比晶振廠家

[常見(jiàn)問(wèn)題]晶振全套技術(shù)語(yǔ)言解釋2019年03月16日 08:56: 晶振此款電子元器件幾乎是電子產(chǎn)品都能看到它的身影,無(wú)處不在, 同時(shí)作為電子產(chǎn)品的必需品,各電子行業(yè)的設(shè)計(jì)工程師在選用和設(shè)計(jì)電路板時(shí),應(yīng)該注意到每一個(gè)功能,以及每個(gè)產(chǎn)品的參數(shù),不同的參數(shù)發(fā)揮著不同的性能,因此在選用晶振時(shí)要選擇符合的參數(shù).或許有些人對(duì)于相關(guān)的參數(shù)術(shù)語(yǔ)會(huì)有不太了解的,康比電子下面簡(jiǎn)述一下石英晶振的一些專業(yè)術(shù)語(yǔ).; 閱讀（374）標(biāo)簽：晶振老化|晶振術(shù)語(yǔ)解釋|石英晶振負(fù)載電容

[技術(shù)支持]晶振老化實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)2019年02月25日 15:43: 我們都清楚的了解電子元件是當(dāng)代基本且重要的東西,沒(méi)有它的存在則不會(huì)有現(xiàn)如今遍布在周邊的電子產(chǎn)品,智能產(chǎn)品等所有給我們生活帶去更多便利I的東西.猶如我們的晶振產(chǎn)品,更是無(wú)處不在,在每個(gè)電子產(chǎn)品發(fā)揮著強(qiáng)大的功能.有的人會(huì)問(wèn)晶振的壽命有多長(zhǎng)等一系列問(wèn)題,該篇文章康比電子一次性告訴大家.; 閱讀（750）標(biāo)簽：晶振老化|石英晶振高溫|晶振壽命

[常見(jiàn)問(wèn)題]Anderson安德森晶振教程老化2019年01月07日 09:08: 老化是隨著時(shí)間的推移頻率的系統(tǒng)性逐漸變化.老化是由于晶振表面的變化,頻率調(diào)節(jié)方法,驅(qū)動(dòng)/功率水平和氣密密封導(dǎo)致的頻率確定參數(shù)惡化的結(jié)果.老化表示為頻率偏差,通常在給定驅(qū)動(dòng)水平和/或溫度下隨時(shí)間的百萬(wàn)分率(PPM).實(shí)施例:30天后在0.5mW下+/-3ppm/年; 閱讀（572）標(biāo)簽：Anderson安德森晶振|晶振老化教程|美國(guó)進(jìn)口晶振

[常見(jiàn)問(wèn)題]石英晶體振蕩器長(zhǎng)時(shí)間老化性能結(jié)果2018年07月20日 16:32: 將提供長(zhǎng)達(dá)1900天的延長(zhǎng)老化測(cè)試結(jié)果，以便深入了解石英晶體振蕩器的長(zhǎng)期漂移特性。將討論這些結(jié)果，以顯示環(huán)境條件變化和電源開(kāi)-關(guān)循環(huán)的影響。對(duì)包括AT和SC切割爐控制晶體振蕩器(OCXO)以及溫度補(bǔ)償晶振(TCXO)在內(nèi)的幾種類型的石英晶體振蕩器進(jìn)行了非常長(zhǎng)時(shí)間尺度的老化測(cè)量。)盡管每個(gè)OCXO在生產(chǎn)中都會(huì)老化，但數(shù)據(jù)通常只在滿足老化率規(guī)范所需的時(shí)間內(nèi)收集。TCXOs很少老化，因?yàn)榇_定真正老化性能需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。關(guān)于大組振蕩器長(zhǎng)時(shí)間老化性能結(jié)果的研究通常沒(méi)有。; 閱讀（294）標(biāo)簽：石英晶體振蕩器|溫度補(bǔ)償晶振|晶振老化

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