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CTS的突破創(chuàng)新型小封裝高質(zhì)量的石英晶體諧振器,很適合用于通信設(shè)備領(lǐng)域416F260X3AKR

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CTS的突破創(chuàng)新型小封裝高質(zhì)量的石英晶體諧振器,很適合用于通信設(shè)備領(lǐng)域416F260X3AKR

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瀏覽：- 發(fā)布日期：2022-06-27 13:38:06【大中小】

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CTS的突破創(chuàng)新型小封裝高質(zhì)量的石英晶體諧振器,很適合用于通信設(shè)備領(lǐng)域416F260X3AKR，密封性試驗(yàn)確定包內(nèi)是否存在任何泄漏。通常指定兩個(gè)測(cè)試:粗漏和細(xì)漏。大多數(shù)水晶包都應(yīng)該通過(guò)這兩種方法。總泄漏測(cè)試涉及有些氣泡通過(guò)將晶體浸入液體腔來(lái)抑制。精細(xì)泄漏測(cè)試系統(tǒng)使用氦作為示蹤氣體和氦探測(cè)器。可以檢測(cè)到低至1x10-9cc/秒的水平。大多數(shù)無(wú)源晶體規(guī)格為1x10-8cc/秒。良好的密封性將確保良好的老化水晶的生命。

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可焊性試驗(yàn)確定焊料對(duì)鉛或晶片的潤(rùn)濕性。在使用較弱助焊劑或不清潔的大批量生產(chǎn)中，良好的可焊性是必要的工序減少對(duì)板洗的需要。蒸汽老化是一種用于驗(yàn)證的試驗(yàn)方法隨著時(shí)間的推移，可獲得良好的可焊性性能。這種預(yù)條件作用使引線具有蒸汽可焊性測(cè)試前可幫助刺激長(zhǎng)達(dá)6個(gè)月的保質(zhì)期。這可能是對(duì)您的應(yīng)用程序很重要。如果你在收到水晶后迅速使用，蒸汽測(cè)試可能不需要。通過(guò)指定MIL-STD-202，方法208，需要蒸汽預(yù)處理。要求這個(gè)測(cè)試對(duì)您的晶體可能會(huì)略有影響的價(jià)格，所以它可能是您的優(yōu)勢(shì)，考慮您的應(yīng)用程序之前指定蒸汽預(yù)處理。CTS的突破創(chuàng)新型小封裝高質(zhì)量的石英晶體諧振器,很適合用于通信設(shè)備領(lǐng)域416F260X3AKR

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活動(dòng)下降

一種不需要的晶體特性，它表現(xiàn)為無(wú)源晶體電阻和共振頻率的突然變化，隨后又同樣突然地恢復(fù)到先前的值。活度下降受到晶體驅(qū)動(dòng)電平和負(fù)載電容的強(qiáng)烈影響。

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老化

由于石英晶體諧振腔內(nèi)部的變化而引起的頻率隨時(shí)間的系統(tǒng)變化。老化常以每年百萬(wàn)分之一的最大值來(lái)表示[ppm/年]。衰老的速度在本質(zhì)上是對(duì)數(shù)的。影響晶體老化的因素有:諧振腔表面的污染物吸附和解吸，安裝和連接結(jié)構(gòu)的應(yīng)力消除，材料放氣，以及密封完整性。

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416F300X3CDR	CTS晶振	416	MHz Crystal	30MHz
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416F300X3CSR	CTS晶振	416	MHz Crystal	30MHz
416F300X3CTR	CTS晶振	416	MHz Crystal	30MHz
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416F300XXADR	CTS晶振	416	MHz Crystal	30MHz
416F300XXAKR	CTS晶振	416	MHz Crystal	30MHz

諧振腔空白被切出的角度[以度、分、秒指定]相對(duì)于主晶體軸的石英材料。切割角度是一個(gè)主要因素控制壓電石英晶體單元的頻率與溫度性能。

AT切割晶體單元

對(duì)一種特定類型的石英晶體切割的分類。AT剪是最受歡迎的剪法在MHz范圍內(nèi)的晶體單元今天制造的類型。AT Cut是一種厚度-剪切體聲波[BAW]晶體單元，在室溫附近具有三次頻率隨溫度變化的拐點(diǎn)曲線。它因其優(yōu)良的溫度頻率特性而廣受歡迎。

416F300XXALR	CTS晶振	416	MHz Crystal	30MHz
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416F32023CTR	CTS晶振	416	MHz Crystal	32MHz
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416F32025ADR	CTS晶振	416	MHz Crystal	32MHz

基地

底座通常被稱為支架或表頭，是石英晶體單元包的子組件。

空白

一種半加工的石英晶體諧振器，通常沒(méi)有電極鍍層及其支架或底座。

416F32025AKR	CTS晶振	416	MHz Crystal	32MHz
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